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高频（微波）介电常数测试仪（TE空洞共振腔）
品牌：AET
型号: 空洞共振腔
产地：日本
机型：TE空洞共振腔
- 产品参数
品牌：AET
型号: 空洞共振腔
产地：日本
机型：TE空洞共振腔
仪器简介：
TE空洞共振腔专用于测量厚度小于0.3mm的薄膜，支持5G（第五代移动通信系统），最高可达40GHz的频率。
有固定的间隙用于插入待测样品，并且在测量稳定性方面优于将样品夹在谐振器中的方法。
可以测量各种材料（例如软样品和脆性样品）的介电常数。
技术参数：
可测试频率范围： 10G-40GHz
介电常数Epsilon：1-5， 准确度： ±1%，
介电损耗tangent delta：0.01-0.0001， 准确度：±5%
样品形状：方形片状
10 GHz（大于50 mm X 50mm） ；
20 GHz（ 大于40 mm X 40mm）；
28/40 GHz（ 大于30 mm X 30mm）
厚度：0.01 -0.3mm
符合标准 JIS R1641 IPC-TM650 2.5.5.13
拥有多种腔体，每个腔可测一个频点.
主要特点：
TE空洞共振腔（Cavity Resonator ），适用于5G薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。
应用领域：
主要应用于5G材料，例如薄膜等。
高速数字/微波电路用基底材料 ；滤波器和介电天线用低损耗电介质 ；化学制品；
薄膜与新材料；半导体材料；电子材料（包括CCL和PCB）
产品资料下载：
日本AET高频（微波）介电常数分析仪
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